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- 北京金三航科技发展有限公司
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某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F3-OK2故障器件测试报告
测试时间：2012-03-29 测试结果：失败
测试元件型号：SPHE8202L-F3-OK2
测试设备：英国ABI-AT192
Test Summary
| Device: | SPHE8202 |
|---|---|
| Package: | QFP128 |
| Scan Profile: | Low V Digital |
| Overall Result: | FAIL |
| Operator: | Administrator |
| Report Date: | 29 March 2012 |
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